18. Workshop „Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen“

12. bis 14. März 2006, Maritim Hotel, Titisee

Programmkomitee

• J. Alt, Infineon Technologies AG
• W. Anheier, Universität Bremen
• B. Becker, Universität Freiburg
• W. Daehn, Hochschule Magdeburg-Stendal
• H. Delong, Micronas AG
• E. Dilger, Robert Bosch GmbH
• S. Eichenberger, Philips Nijmegen
• B. Elbel, München
• M. Fischer, Agilent Technologies AG
• W. Glauert, Universität Erlangen
• M. Gössel, Universität Potsdam
• S. Hellebrand, Universität Paderborn
• K. Helmreich, Universität Erlangen
• W. Hoppe, Rheinmetall Defence Electronics GmbH
• M. Kessler, IBM Entwicklungs GmbH
• U. Mahlstedt, Infineon Technologies AG
• I. Polian, Universität Freiburg
• S. Sattler, Infineon Technologies AG
• J. Schlöffel, Philips Semiconductors GmbH
• V. Schöber, edacentrum e. V.
• A. Steininger, Technische Universität Wien
• B. Straube, Fraunhofer IIS / EAS Dresden
• H. T. Vierhaus, Universität Cottbus
• R. Wagner, Robert Bosch GmbH
• H.-J. Wunderlich, Universität Stuttgart